2021年9月1日，《Postharvest biology and technology》發(fā)表了題為“Spatial frequency domain imaging for determining absorption and scattering properties of bruised pears based on profile corrected diffused reflectance”的研究論文，該論文以南京財經大學為第一單位，何學明博士為第一作者。該項研究工作得到了江蘇省自然科學基金、農業(yè)農村部農產品產地處理裝備重點實驗室開放課題與國家自然科學基金的資助。

 

　　水果曲面輪廓對利用空間頻域成像（SFDI）技術測量吸收系數(shù)（μa）與約化散射系數(shù)（μ‘s）有很大影響。在本研究中，使用已開發(fā)的結構光成像系統(tǒng)進行相位測量輪廓術（PMP）的檢測，以獲得被測物體的表面高度。對平面和球面幾何模型進行蒙特卡羅（MC）仿真，根據(jù)仿真結果確定漫反射率（Rd）校正公式，并用標準反射板進行驗證。使用五個半球形固體仿體驗證所提出的Rd校正方法對估算μa和μ's計算結果影響，結果表明，兩個參數(shù)精度和均勻性都得到了顯著提高，相對誤差范圍分別為0.78%-11.84%和2.83%-8.95%，校正后的μa和μ's的標準偏差范圍分別為1.89×10-5 - 1.42×10-3 mm-1和1.76×10-4 - 8.17×10-3 mm-1。最后，將所提出的Rd校正方法用于梨機械損傷檢測中，對正常梨和損傷梨的μa和μ's圖譜進行了比較。結果表明，在Rd校正前，正常梨輪廓最高點附近的區(qū)域容易被識別為損傷區(qū)；校正后，正常梨的μa和μ's圖更為均勻，損傷梨的損傷區(qū)域更為突出。本研究中提出的輪廓校正方法，結合SFDI技術，對于精確測量梨組織的μa和μ's至關重要，從而減少梨損傷檢測時的誤判。

 

　　原文鏈接：https://doi.org/10.1016/j.postharvbio.2021.111570